10月15至16日，公司邀請冠魁電機(jī)高級工程師對我們二、三分廠的工程技術(shù)人員、設(shè)備人員進(jìn)行了為期兩天的培訓(xùn)，培訓(xùn)內(nèi)容涉及二極管理論知識以及測試方法，小信號二極管特殊性怎樣選擇測試手段，并解答了我們提出在日常工作中遇到的問題。

在二極管的靜態(tài)特性中，著重講述了目前測試設(shè)備廠家開發(fā)并投放市場的測試設(shè)備和更新的測試方式，講述了此類設(shè)備的測試原理和優(yōu)勢。第一，對普通的整流二極管(STD)來講，因?yàn)镾TD芯片來料不可避免存在反向擊穿電壓（VB）的差異，所以通過根據(jù)每只二極管的VB值來自動設(shè)定測試反向漏流（IR）時(shí)所施加的反偏電壓（VR），再反饋為DIR值。明顯可以發(fā)現(xiàn)，DIR測試指標(biāo)比我們目前測試DVR方面的有效性；第二，針對我們目前存在DVF測試設(shè)備無法反饋焊接大空洞的問題，老師從測試機(jī)理，以及設(shè)定不同參數(shù)時(shí)的關(guān)鍵差別，講述了合理、科學(xué)的設(shè)定方法。

有關(guān)動態(tài)特性方面，通過以往的經(jīng)驗(yàn)和案例，講述了反向恢復(fù)時(shí)間（Trr）的影響因素，關(guān)鍵講述了困擾大部分人的現(xiàn)象：相同Trr的產(chǎn)品為什么出現(xiàn)現(xiàn)上機(jī)后的不同結(jié)果，講解了關(guān)鍵參數(shù)Qrr對高頻條件下的影響程度，并通過理論的講解，引出了目前冠魁電機(jī)新型的測試設(shè)備，讓我們在選擇設(shè)備時(shí)更合理。

我們提出了在日常工作中遇到的現(xiàn)象，老師通過理論知識和實(shí)際經(jīng)驗(yàn)方面做出了解答。讓我們更加明確生產(chǎn)中對產(chǎn)品特性的判斷和做出科學(xué)合理的處理方式。

通過此次培訓(xùn)，我們發(fā)現(xiàn)了在設(shè)備硬件方面、人員技術(shù)能力方面存在的一些差異，明確了差距才能快速彌補(bǔ)，不斷開拓知識、深入了解市場動態(tài)才能實(shí)現(xiàn)行業(yè)內(nèi)的超越。

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